概述： 

可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱適用于電子電工產(chǎn)品、儀器儀表、原材料、電子元件等高低溫適應(yīng)性試驗(yàn)、低溫恒溫及儲存；可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱特別適用于光纖、晶體、精密電感、PCB、LCD等產(chǎn)品的高低溫適應(yīng)性試驗(yàn)。 

恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)技術(shù)參數(shù)：
★溫度范圍：低溫：（A：+25℃； B：0℃；C：-20℃； D：-40℃；E：-60℃；F：-70℃）；高溫:100℃（150℃）
★試驗(yàn)箱內(nèi)部尺寸：按客戶要求制造
★濕度范圍：20%—98% R.H.（10%～98%R.H）；（5%～98%R.H為特殊選用條件） 
★溫濕度解析精度/分布精度：0.1℃；0.1%R.H./±2.0℃；±3.0%R.H.
★溫濕度控制精度：±0.5℃；±2.5%R.H.
★升溫/降溫時間：升溫約4.0℃/分鐘 ；降溫約1.0℃/分鐘
★內(nèi)外部材質(zhì)/內(nèi)外箱材質(zhì)：為SUS304#不銹鋼板制
★保溫材質(zhì)：耐高溫高密度氯基甲酸乙醋泡沫絕緣體材料

恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī) 執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)： 

★GB/T10589-1989 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 

★GB/T11158-1989 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 

★GB/T10592-1989 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件 

★GB/T2423.1-2001 IEC60068-2-1試驗(yàn)A規(guī)程: 低溫試驗(yàn)方法 

★GB/T2423.2-1989 IEC60068-2-2試驗(yàn)B規(guī)程: 高溫試驗(yàn)方法 

★GB/T2423.22-1987試驗(yàn)Nb溫度變化試驗(yàn)方法 

★GJB150.3-1986高溫試驗(yàn) 

★GJB150.4-1986低溫試驗(yàn) 

★IEC68-2-14 試驗(yàn)N 

恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)控制系統(tǒng)：

★主控制器采用進(jìn)口高精度液晶顯示觸摸按鍵溫度控制器。

★該控制器采用液晶顯示觸摸屏，可顯示設(shè)定參數(shù)、試驗(yàn)曲線、運(yùn)行時間、加熱器工作狀態(tài)，PID參數(shù)自整定功能。控制程序的編制采用人機(jī)對話方式，僅需設(shè)定溫度，就可實(shí)現(xiàn)制冷機(jī)自動運(yùn)行功能。

★控制系統(tǒng)具備完善的檢測裝置能自動進(jìn)行詳細(xì)的故障顯示。

★報警，配置485通訊接口及運(yùn)行軟件。

★設(shè)定精度：溫度：0.1℃ 時間：Is用戶程序容量：10×99段。

★運(yùn)行方式：程序運(yùn)行，恒定運(yùn)行。獨(dú)立超溫保護(hù)儀表。設(shè)備工作時間累計計時器。

★低溫區(qū)、高溫區(qū)轉(zhuǎn)換時間小于等于15秒。 

★溫度恢復(fù)時小于等于5分鐘

售后服務(wù)：

★交貨之日起，保修壹年，終身維修！

★下列情況不屬于保修范圍：

★ 天災(zāi)、電力異常或其它不可抗拒之事故導(dǎo)致?lián)p害。

★由于使用者操作不當(dāng)或保養(yǎng)不當(dāng)導(dǎo)致?lián)p壞。

★ 裝后移動或運(yùn)送不當(dāng)導(dǎo)致?lián)p害

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