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振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)簡(jiǎn)稱振動(dòng)臺(tái)，是一種模擬產(chǎn)品在各個(gè)不同運(yùn)輸環(huán)境下所能承受的程度一種試驗(yàn)設(shè)備。
GB 10593.1-3-89電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測(cè)量方法：振動(dòng)(GBT 10593.1-1989) GBT 2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)：2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則 振動(dòng)
振動(dòng)測(cè)試的目的，在于實(shí)驗(yàn)中做一連串可控制的振動(dòng)模擬，測(cè)試產(chǎn)品在壽命周期中，是否能承受運(yùn)送或振動(dòng)環(huán)境因素的考驗(yàn)，也能確定產(chǎn)品設(shè)計(jì)及功能的要求標(biāo)準(zhǔn)。據(jù)統(tǒng)計(jì)的數(shù)據(jù)顯示提升3%的設(shè)計(jì)水準(zhǔn)，將增加20%的回收及減少18%的各項(xiàng)不必要支出。振動(dòng)模擬依據(jù)不同的目的也有不同的方法，如共振搜尋、共振駐留、循環(huán)掃描、隨機(jī)振動(dòng)及應(yīng)力篩檢等。
振動(dòng)測(cè)試的目的，在于實(shí)驗(yàn)中做一連串可控制的振動(dòng)模擬，測(cè)試產(chǎn)品在壽命周期中，是否能承受運(yùn)送或振動(dòng)環(huán)境因素的考驗(yàn)，也能確定產(chǎn)品設(shè)計(jì)及功能的要求標(biāo)準(zhǔn)。據(jù)統(tǒng)計(jì)的數(shù)據(jù)顯示提升3%的設(shè)計(jì)水準(zhǔn)，將增加20%的回收及減少18%的各項(xiàng)不必要支出。振動(dòng)模擬依據(jù)不同的目的也有不同的方法，如共振搜尋、共振駐留、循環(huán)掃描、隨機(jī)振動(dòng)及應(yīng)力篩檢等。
1、GB 5170.14-85 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備：基本參數(shù)檢定方法振動(dòng) (正弦) 試驗(yàn)用電動(dòng)振動(dòng)臺(tái) 2、GB 10593.1-3-89電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)測(cè)量方法：振動(dòng)(GBT 10593.1-1989) 3、GBT 2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)：2部分 試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Fc和導(dǎo)則 振動(dòng) (正弦)
